高壓壓電響應力顯微術(shù)（PFM） 參考價：面議
利用Cypher 原子力顯微鏡的HV-PFM選項，可以對壓電材料（包括鐵電體和多鐵性材料）進行高靈敏度、高偏壓、以及無串擾的測量。該套件包括：一個集成的高壓放大...
納米級依時性介質(zhì)擊穿（NanoTDDB） 參考價：面議
利用NanoTDDB，可以在Cypher原子力顯微鏡上實現(xiàn)納米級精度的介質(zhì)擊穿測量。操作時可以施加恒定電壓，或逐漸增加的偏壓（達150 V），同時利用一個導電的...
電化學腔室 參考價：面議
利用電化學腔室（EC腔室），可以對電化學過程進行表征（EC-AFM）。EC腔室套件包括：一個液體杯、探針夾持器、樣品支架和標準電極。用戶可以選擇自己的穩(wěn)壓器。這...
掃描電容顯微鏡（SCM）配件 參考價：面議
掃描電容顯微鏡（SCM）是一種表征材料納米電學性質(zhì)的原子力顯微鏡(AFM)成像技術(shù)，它使用微波射頻(RF)信號來探測半導體和其它種類樣品中的電荷，載流子的位置，...
掃描微波阻抗顯微術(shù)(sMIM) 參考價：面議
sMIM 可在Cypher原子力顯微鏡上實現(xiàn)對金屬、半導體和絕緣材料的納米級的介電常數(shù)和導電性成像。詢價 增加到詢價列表 在詢價列表中查看此產(chǎn)品
導電原子顯微鏡（ORCA） 參考價：面議
憑借ORCA導電原子力顯微鏡的探針夾持器，所有MFP-3D 原子力顯微鏡都可以進行導電AFM成像和I-V性能測量。標準模塊能夠測量約1 pA至20 nA的電流。...
Interferometric Displacement Sensor (IDS) 參考價：面議
TheInterferometric Displacement Sensor (IDS)option for the Cypher AFM directly m...
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